반도체
반도체 신뢰성 테스트 및 테스트 항목
반도체 신뢰성 테스트반도체 신뢰성 테스트란 제품이 일정 기간 동안 표준 기술 조건에서 특정 기능이 작동 가능한지 확인하는 능력을 말합니다. 신뢰성 테스트는 제품의 고장 확률과 유지보수 가능성으로 측정될 수 있습니다. 제품의 예상, 실제 기술 사양 및 고객 요구 사항에 따라 MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, EIA 등 다양한 신뢰성 테스트 표준에 따라 테스트를 수행합니다. 반도체 신뢰성 테스트 항목가속 수명 시뮬레이션 테스트 1) 제품 초기 수명 실패율 (Early Life Failure Rate, ELFR) ELFR은 시간이 지남에 따라 고장률이 일정하거나 감소하는 가속 테스트를 사용하여 제품의 초기 수명 고장률을 계산하는 방법입니다. 적절한 현장 고장 데이터가 있는 기술의 ..