반도체
반도체 전기 고장 분석 Electrical Failure Analysis (EFA)의 종류와 개념 (1)
이번 글에서는 반도체 전기 고장 분석 (EFA)의 종류과 개념에 대해 살펴보겠습니다. 반도체 전기 고장 분석 Electrical Failure Analysis (EFA)의 종류 전기 고장 분석(EFA)의 종류로는 전기적 특성, PEM-CCD, PEM-InGaAs, OBIRCH 등이 있습니다. 반도체 전기 고장 분석 Electrical Failure Analysis (EFA)의 개념 1) 전기적 특성 측정 : 이 기술은 반도체 소자의 저항, 정전용량, 인덕턴스 등 전기적 특성을 파악하는 데 사용되며 고장과 정상 칩에서 측정된 특성은 추가 고장 분석에 중요한 단서를 제공할 수 있습니다. 2) PEM-CCD : 광자 방출 현미경 (PEM)이라고도 불리는 방출 현미경 (EMMI)을 사용하여 고 방출..
